Монографія містить фізичні основи рентгеноструктурного аналізу кристалічних матеріалів, а також опис традиційних та сучасних методів рентгеноструктурного аналізу в матеріалознавстві. Вона висвітлює принципи кристалогеометрії, які базуються на теорії симетрії. Основною метою є поєднання фундаментальних та прикладних методів для розв'язання науково-дослідницьких та матеріалознавчих задач. Автори намагалися зрозуміло пояснити фізичні явища, що лежать в основі рентгеноструктурних методів. У монографії також висвітлено сучасні тенденції рентгеноструктурного аналізу, серед яких варто виділити: широке застосування нового покоління дифрактометрів, розвиток потужних програмних продуктів та використання великої бази даних для кількісної ідентифікації вивчених речовин. Автори також намагалися пояснити зв'язок між фізичними закономірностями взаємодії рентгенівського випромінювання з речовиною та математичним описом.